消息
×
loading..
中文版 | English

在结果中检索

KMS

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
SiC emitters for nanoscale vacuum electronics: A systematic study of cathode-anode gap by focused ion beam etching 期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B: MICROELECTRONICS AND NANOMETER STRUCTURES, 2017, 卷号: 35, 期号: 3
作者:  Liu, Meng;  Li, Tie;  Wang, Yuelin
Adobe PDF(2219Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：709/0  |  提交时间：2017/07/12
High quality extremely thin SOI fabricated by facilitated ion-cut with H-trapping effect 期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B: MICROELECTRONICS AND NANOMETER STRUCTURES, 2016, 卷号: 34, 期号: 2
作者:  Chang, Yongwei;  Xue, Zhongying;  Chen, Da;  Cheng, Shi;  Zhang, Miao
Adobe PDF(1916Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：412/0  |  提交时间：2017/07/04
  • 首页
  • 上一页
  • 1
  • 下一页
  • 末页