一种用于近常压X射线光电子能谱原位测试的电化学流动池装置及方法
申请号CN202411739764.2
2025-03-07
公开(公告)号CN119574604A
公开日期2025-03-07
摘要本发明提供一种用于近常压X射线光电子能谱原位测试的电化学流动池装置,涉及近常压X射线光电子能谱实验仪器领域。本发明所提供的用于近常压X射线光电子能谱原位测试的电化学流动池装置,包括固定机构和设于固定机构上的电化学原位池,电化学原位池位于APXPS腔体中;电化学原位池依次包括可拆卸连接的前板、金网、离子交换膜、绝缘板、背板和两根气液进样管,背板与固定机构可拆卸连接;离子交换膜上涂覆有样品,前板中设有进光通孔,背板上设有气液通路,两根气液进样管均穿过固定机构与背板连接,且两根气液进样管分别与气液通路的进口处和出口处相连通。本发明在近常压条件下实现了对电极表面物种和催化剂价态的实时观测。
当前权利人上海科技大学
专利代理人许亦琳 ; 余明伟
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
专利申请人上海科技大学
公开国别中国
公开国别简称CN
IPC 分类号G01N23//2204; G01N23//2273
专利有效性审中
专利类型发明申请
专利类型字典1
当前法律状态实质审查
简单同族CN119574604A
扩展同族CN119574604A
INPADOC 同族CN119574604A
文献类型专利
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/493660
专题大科学中心_公共科研平台_大科学装置建设部
大科学中心_PI研究组_刘志组
物质科学与技术学院_博士生
作者单位
上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
韩永,石书丞,刘志. 一种用于近常压X射线光电子能谱原位测试的电化学流动池装置及方法. CN202411739764.2[P]. 2025-03-07.
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