Temperature-Dependent Electrical and Trap Properties of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes w/o homoepitaxial layer
2024
会议录名称THE 11TH ASIA-PACIFIC WORKSHOP ON WIDEGAP SEMICONDUCTORS (APWS)
发表状态已发表
会议名称The 11th Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors (APWS)
文献类型会议论文
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/449619
专题信息科学与技术学院_博士生
信息科学与技术学院_PI研究组_邹新波组
信息科学与技术学院_硕士生
通讯作者Zou, Xinbo
作者单位
1.Shenzhen Pinghu Laboratory
2.ShanghaiTech University
3.Sun Yat-sen University
第一作者单位上海科技大学
通讯作者单位上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
Chen, Jiaxiang,Qu, Haolan,Du, Haitao,et al. Temperature-Dependent Electrical and Trap Properties of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes w/o homoepitaxial layer[C],2024.
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