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| 分子筛材料中缺陷的电子显微分析 | |
| 2023-11 | |
| 会议录名称 | 中国晶体学会第九届学术年会 |
| 发表状态 | 已发表 |
| 会议名称 | 中国晶体学会第九届学术年会 |
| 会议地点 | 中国福建福州 |
| 会议日期 | 2023-11 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/424448 |
| 专题 | 物质科学与技术学院_博士生 物质科学与技术学院_PI研究组_马延航组 |
| 通讯作者 | 马延航 |
| 作者单位 | 上海科技大学 |
| 第一作者单位 | 上海科技大学 |
| 通讯作者单位 | 上海科技大学 |
| 第一作者的第一单位 | 上海科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 范亚奇,马延航. 分子筛材料中缺陷的电子显微分析[C],2023. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 中国晶体学会第九届学术年会-分子筛材料中（3476KB） | 会议论文 | 暂不开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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