一种基于压力监测的弯晶制备装置及使用方法
申请号CN202310846554.2
2023-09-22
公开(公告)号CN116787621A
公开日期2023-09-22
摘要本发明涉及X射线光学元件制备技术领域,具体涉及一种基于压力监测的弯晶制备装置及其使用方法。一种基于压力监测的弯晶制备装置,包括下壳体、若干压力传感器、支架、第一基底、第二基底、上壳体和若干压力调节部,所述下壳体内设有空腔,且所述下壳体顶部敞开,所述压力传感器设于所述空腔内,所述支架设于所述传感器远离所述下壳体底部的一侧,所述第一基底、第二基底和上壳体沿着远离所述下壳体的方向依次设于所述支架上,所述上壳体和所述下壳体通过所述压力调节部相连。本发明可以解决弯晶制备过程中,压力大小及压力分布的均匀性无法精确测量和控制的问题。
当前权利人上海科技大学
专利代理人许亦琳 ; 余明伟
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
专利申请人上海科技大学
公开国别中国
公开国别简称CN
IPC 分类号B28D5//00; G01L5//00; B28D7//04; B28D7//00
专利有效性审中
专利类型发明申请
专利类型字典1
当前法律状态实质审查
简单同族CN116787621A
扩展同族CN116787621A
INPADOC 同族CN116787621A
文献类型专利
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/329040
专题大科学中心_公共科研平台_大科学装置建设部
硬x射线自由电子激光装置项目
物质科学与技术学院_硕士生
物质科学与技术学院_PI研究组_叶柏华组
大科学中心_PI研究组_翁祖谦组
作者单位
上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
翁祖谦,张凯宇,曾暄琦,等. 一种基于压力监测的弯晶制备装置及使用方法. CN202310846554.2[P]. 2023-09-22.
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