| |||||||
ShanghaiTech University Knowledge Management System
暗电流补偿装置、探测器和光子计数成像系统 | |
申请号 | CN202310871058.2 |
2023-09-15 | |
公开(公告)号 | CN116761091A |
公开日期 | 2023-09-15 |
摘要 | 本申请涉及暗电流补偿装置、探测器和光子计数成像系统,装置由大于等于2个像素单元组成的像素阵列和偏置自动校准电路;每个像素单元包括暗电流读出电路、暗电流补偿电路和数模转换器;暗电流读出电路的输入端用于连接像素单元对应的像素的暗电流输出端,其输出端连接数模转换器的输出端;暗电流补偿电路的同相输入端和输出端分别连接暗电流读出电路的输出端和输入端,其反相输入端接入参考电压;偏置自动校准电路的输入端和输出端分别与各个数模转换器的输出端和输入端连接,其用于将各个输出共模基线电压校准成与参考电压之间的偏差小于设定阈值,提高像素单元之间的一致性且解决暗电流的存在影响光子成像系统的成像效果的问题。 |
当前权利人 | 上海联影微电子科技有限公司 ; 上海科技大学 |
专利代理人 | 吴婷婷 |
代理机构 | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 |
专利申请人 | 上海联影微电子科技有限公司; 上海科技大学 |
公开国别 | CN |
公开国别简称 | CN |
IPC 分类号 | H04N25//63 |
专利有效性 | 审中 |
专利类型 | 发明申请 |
专利类型字典 | 1 |
当前法律状态 | 实质审查 |
简单同族 | CN116761091A |
扩展同族 | CN116761091A |
INPADOC 同族 | CN116761091A |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/328451 |
专题 | 科技发展处 生物医学工程学院_PI研究组_赖晓春组 |
作者单位 | 1.上海联影微电子科技有限公司 2.上海科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刁建国,栗成智,曹倩云,等. 暗电流补偿装置、探测器和光子计数成像系统. CN202310871058.2[P]. 2023-09-15. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
暗电流补偿装置、探测器和光子计数成像系统(637KB) | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
个性服务 |
查看访问统计 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[刁建国]的文章 |
[栗成智]的文章 |
[曹倩云]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[刁建国]的文章 |
[栗成智]的文章 |
[曹倩云]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[刁建国]的文章 |
[栗成智]的文章 |
[曹倩云]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
修改评论
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。