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自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置
申请号CN202210702531.X
2022-09-30
公开(公告)号CN115128113A
公开日期2022-09-30
摘要本发明涉及一种自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置,其特征在于,包括超连续白光产生模块;时空色散模块;真空腔:X射线自由电子激光从与聚焦后的超连续白光脉冲的入射方向不同的方向射入真空腔内;成像光谱仪:将超连续白光脉冲聚焦在样品上的线成像在成像光谱仪的入射狭缝上;X射线自由电子激光与超连续白光脉冲重叠部分的光谱为发生透射率突变的信号光谱,X射线自由电子激光与超连续白光脉冲未重叠部分的光谱为参考光谱,将发生透射率突变的信号光谱与参考光谱相除获得所需信息。本发明将超连续白光脉冲聚焦成线,同时在该线进行光谱测量,从而对同一个脉冲同时获得了经过相同光路的发生透射率突变的光谱和参考光谱,极大地提高了光谱信噪比。
当前权利人上海科技大学
专利代理人翁若莹 ; 柏子雵
代理机构上海申汇专利代理有限公司 31001
专利申请人上海科技大学
公开国别中国
公开国别简称CN
IPC 分类号G01N23//2273; G01N21//25
专利有效性有效
专利类型发明申请
专利类型字典1
当前法律状态授权
授权公告日2024-07-30
授权公开(公告)号CN115128113B
简单同族CN115128113A
扩展同族CN115128113A
INPADOC 同族CN115128113A
文献类型专利
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/232013
专题大科学中心_公共科研平台_大科学装置建设部
大科学中心_PI研究组_江怀东组
作者单位
上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
佟亚军,范家东,江怀东. 自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置. CN202210702531.X[P]. 2022-09-30.
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自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断(312KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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