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文献类型
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邹新波组
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Reliable electrical performance of β-Ga2O3 Schottky barrier diode at cryogenic temperatures
期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY A: VACUUM, SURFACES AND FILMS, 2024, 卷号: 42, 期号: 2
作者:
Qu, Haolan
;
Huang, Wei
;
Zhang, Yu
;
Sui, Jin
;
Chen, Jiaxiang
Adobe PDF(3333Kb)
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提交时间:2024/02/23
Carrier concentration
Cryogenics
Gallium compounds
Semiconductor metal boundaries
Temperature distribution
Blocking performance
Cryogenic temperatures
Dynamic performance
Electrical performance
Ideality factors
Lows-temperatures
Off state
Schottky characteristics
Temperature dependence
Temperature rise
Relaxation kinetics of interface states and bulk traps in atomic layer deposited ZrO2/β-Ga2O3 metal-oxide-semiconductor capacitors
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2024, 卷号: 135, 期号: 8
作者:
Chen, Jiaxiang
;
Qu, Haolan
;
Sui, Jin
;
Lu, Xing
;
Zou, Xinbo
Adobe PDF(3256Kb)
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浏览/下载:34/5
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提交时间:2024/03/22
Atomic layer deposition
Capacitance
Electric fields
Gallium compounds
MOS capacitors
Oxide semiconductors
Transistors
Zirconia
Atomic layer deposited
Bulk traps
Comprehensive analysis
Device instabilities
Emission behavior
Forward bias
Interfaces state
Metal-oxide semiconductor devices
Metal-oxide- semiconductorcapacitors
Relaxation kinetics
Radiation effects of high-fluence reactor neutron on Ni/β-Ga
2
O
3
Schottky barrier diodes
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2024, 卷号: 124, 期号: 1
作者:
Zhou, Leidang
;
Chen, Hao
;
Xu, Tongling
;
Ruan, Jinlu
;
Lai, Yuru
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提交时间:2024/03/04
Trap Characterization Techniques for GaN-Based HEMTs: A Critical Review
期刊论文
MICROMACHINES, 2023, 卷号: 14, 期号: 11
作者:
Zou, Xiazhi
;
Jiayi Yang
;
Qifeng Qiao
;
Xinbo Zou
;
Chen JX(陈嘉祥)
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浏览/下载:55/1
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提交时间:2023/11/20
High electron mobility transistors
III-V semiconductors
Characterization methods
Characterization techniques
Critical review
Gallium nitride high-electron-mobility transistor
High breakdown voltage
High current densities
High electron-mobility transistors
High-power-density
Power devices
Trap
High-Speed Photodetector With Simultaneous Electrical Power Generation
期刊论文
JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY, 2023, 卷号: 41, 期号: 2, 页码: 662-670
作者:
Wang, Luyu
;
Xie, Zhiyang
;
Pan, Beibei
;
Zhou, Zhiqi
;
Li, Linze
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提交时间:2023/02/24
Aluminum alloys
Aluminum gallium arsenide
Bandwidth
Data acquisition
Energy transfer
Gallium
Gallium arsenide
III-V semiconductors
Light transmission
Optical fibers
Photodetectors
Speed
Electrical power generation
Forward bias
High speed optical techniques
High speed photodetectors
Laser power converters
Optical power transmission
Photovoltaics
PIN photodiode
Power lasers
SWIPT
Pulsed X-Ray Detector Based on an Unintentionally-Doped High Resistivity ε-Ga₂O₃ Film
期刊论文
IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, 2023, 卷号: 35, 期号: 2
作者:
Wang, Jing
;
Zhou, Leidang
;
Lu, Xing
;
Chen, Liang
;
Chen, Zimin
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浏览/下载:100/0
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提交时间:2023/03/10
Ga₂O₃ film
X-ray detection
semiconductor radiation detector
pulsed measurement
High-Performance Machine Vision System by GaN n-i-n Nanowire
会议论文
14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NITRIDE SEMICONDUCTORS (ICNS-14)
作者:
Haitao Du
;
Xu Zhang
;
Qifeng Lyu
;
Kei May Lau
;
Xinbo Zou
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2023/11/20
RF p-GaN HEMT with 0.9-dB Noise Figure and 12.8-dB Associated Gain for LNA Applications
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2023, 卷号: 44, 期号: 9, 页码: 1412-1415
作者:
Junmin Zhou
;
Haowen Guo
;
Haitao Du
;
Yu Zhang
;
Haolan Qu
Adobe PDF(1317Kb)
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浏览/下载:218/1
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提交时间:2023/07/28
Gallium nitride
III-V semiconductors
Leakage currents
Low noise amplifiers
Noise figure
Threshold voltage
Enhancement-mode
Gain
Gate
Gate-leakage
High electron-mobility transistors
Linearity
Low noiseamplifier
Performances evaluation
Radiofrequencies
RF low noise amplifier
Investigation of a minority carrier trap in a NiO/β-Ga2O3p–n heterojunction via deep-level transient spectroscopy
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2023, 卷号: 38, 期号: 10, 页码: 105010
作者:
Qu, Haolan
;
Chen, Jiaxiang
;
Zhang, Yu
;
Sui, Jin
;
Zhang, Ruohan
Adobe PDF(999Kb)
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浏览/下载:113/0
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提交时间:2023/09/23
NiO/beta-Ga2O3 p-n heterojunction
deep-level transient spectroscopy
minority carrier trap
time constant
trap concentration
Neutron Irradiation Induced Carrier Removal and Deep-Level Traps in N-Gan Schottky Barrier Diodes
会议论文
CHINA SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY INTERNATIONAL CONFERENCE (CSTIC 2023), Shanghai, China, 26-27 June 2023
作者:
Jin Sui
;
Jiaxiang Chen
;
Haolan Qu
;
Ruohan Zhang
;
Min Zhu
Adobe PDF(753Kb)
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提交时间:2023/09/23
Radiation effects
Schottky diodes
Spectroscopy
Schottky barriers
Neutrons
Threshold voltage
Leakage currents