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X射线自由电子激光单脉冲耐损伤波前探测及矫正系统
翻译题名X-ray free electron laser monopulse damage-resistant wavefront detection and correction system
申请号CN202010429379.3
2020-05-20
公开(公告)号CN111561997A
公开日期2020-08-21
摘要本发明提供了一种X射线自由电子激光单脉冲耐损伤波前探测及矫正系统,一方面在降低损伤的条件下获得单脉冲波前信息,另一方面通过测得多脉冲波前反馈给反射镜进行姿态和面型的调整,提高调试速度,提高光束聚焦质量。
翻译摘要The invention provides an X-ray free electron laser monopulse damage-resistant wavefront detection and correction system. On the one hand, monopulse wavefront information is obtained under the condition that damage is reduced, and on the other hand, posture and surface type adjustment is conducted by measuring multi-pulse wavefront and feeding back the multi-pulse wavefront to a reflector, so thatthe debugging speed is increased, and the light beam focusing quality is improved.
当前权利人上海科技大学
专利代理人徐俊
代理机构上海申汇专利代理有限公司 31001
专利申请人上海科技大学
公开国别中国
公开国别简称CN
IPC 分类号G01J1//42; G01J1//44
CPC分类号G01J2001//442; G01J1//4228; G01J1//44; G01J2001//4238
专利有效性有效
专利类型发明申请
专利类型字典1
当前法律状态授权
授权公告日2022-10-14
授权公开(公告)号CN111561997B
简单同族CN111561997A
扩展同族CN111561997A
INPADOC 同族CN111561997A
文献类型专利
条目标识符https://kms.shanghaitech.edu.cn/handle/2MSLDSTB/127136
专题大科学中心
作者单位
上海科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
佟亚军, 江怀东, 范家东. X射线自由电子激光单脉冲耐损伤波前探测及矫正系统. CN202010429379.3[P]. 2020-05-20.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
X射线自由电子激光单脉冲耐损伤波前探测及(455KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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